推动高能效创新的安森美半导体 (ON Semiconductor，美国纳斯达克上市代号：ON)，推出了由该公司。

光检测和测距或激光雷达的应用在所有领域都在增长，包括机器人和强制要求毫米范围精度的工业接近感知。它通常基于dToF方法，测量通常在近红外 (NIR) 波长范围内的一个光脉冲往返于一个物体所需的时间。

尽管原理很简单，但其应用可能会带来挑战性，例如周围太阳光较强等环境因素。为了准确确定范围，接收器需要捕获尽可能多的信号。就响应时间和灵敏度而言，传统的光电二极管在这方面会受到影响。安森美半导体开发的硅光电倍增管 (SiPM) 传感器提供更快的响应时间和高检测效率，克服了这些不足。该参考平台使用安森美半导体第二代SiPM 传感器RB系列，在红色和NIR范围都带来更高的性能。

安森美半导体开发的SiPM dToF激光雷达平台提供低成本、单点激光雷达的完整方案，原始设备制造商 (OEM) 可灵活调整并投入生产，以创建工业测距应用。它包括NIR激光二极管、SiPM传感器和光学器件，以及将检测到的信号转换为经过时间，以及将经过时间转换为距离所需的数字处理。

为加快客户的上市时间，安森美半导体提供该参考平台的所有设计数据，涵盖原理图、物料单 (BoM) 、gerber文件和PCB设计文件。客户还可以访问基于PC的图形用户接口(GUI)，提供随时间变化的测量结果的图形。生成的直方图进一步证明该系统在测距、碰撞检测和3D制图等应用的能力。

说：“使用dToF激光雷达进行测距，满足了许多应用的关键需求，从自主导航到地图绘制到监控。但是，开发基于dToF激光雷达的系统可能具有挑战性。我司的这个平台显然证实这领先技术的效用。有了经验证的设计，客户就能更快地进行概念验证，并迅速将产品推向市场。”

SiPM dToF激光雷达平台可检测10厘米至23米距离的物体。使用提供的GUI提供开箱即用的体验，使工程师可以立即开始评估该技术。该设计已获得美国食品和药物管理局 (FDA) 一类认证，并符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040.10 / 1040.11激光安全标准。

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